+7 (343) 359-29-70 ‪‪+7 (343) 359-28-22

620014, г.Екатеринбург,
ул.Куйбышева, д.55, оф.516.

Написать нам
Аналитическое оборудование
Общелабораторное оборудование
Физико-механические испытания и материаловедение
Лабораторная и производственная мебель

Сканирующая электронная микроскопия

Сканирующая электронная микроскопия имеет большое значение для научной и промышленной сфер, кроме того, её польза и востребованность только растут с развитием технологий и совершением научных открытий. Одним из наиболее востребованных и эффективных приборов данного типа является сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Это устройство заслуженно приобрело репутацию многофункционального прибора, возможности которого значительно усовершенствованы и превышают функционал простых устройств для получения увеличенных изображений.

электронные микроскопы

У современного СЭМ изображения фиксируются сразу в цифровом формате, без задействования окуляров. Наличие слова «сканирующий», подразумевает такое построение изображений, при котором поверхность образца сканируется тонко сфокусированным пучком электронов, т.е. образец закрашивается точка за точкой. СЭМ-изображение вслед за движением по поверхности электронного пучка моментально и последовательно, пиксель за пикселем, выводится на экран. Сканирующие электронные микроскопы являются мощнейшим инструментом для исследования микроструктур и наноматериалов. Благодаря сканирующей электронной микроскопии удаётся детально и высококачественно изучить объект и получить максимально точные результаты.

Товары

Сканирующая электронная микроскопия: три практических вопроса

В первую очередь оцените не паспортное разрешение, а реальные задачи. Для повседневного контроля качества или исследований в материаловедении обычно достаточно 15–20 нм в режиме низкого вакуума. Обратите внимание на размер камеры: она должна вмещать ваши образцы без утомительной нарезки. Полевые эмиссионные источники (FEG) дают лучшую яркость и разрешение, но в рутинных задачах выигрыш может быть незаметен, а цена заметно выше. Также важны удобство смены образцов, скорость откачки и встроенные детекторы: вторичных электронов для топографии и обратно-рассеянных для контраста по составу.

Современные настольные СЭМ часто оснащены режимом низкого вакуума или давлением газа в камере, позволяющим смотреть керамику, полимеры, биологические объекты прямо так, без напыления. Это экономит время и не искажает поверхность. Однако для высокого разрешения и точного микроанализа проводящее покрытие всё же желательно. Минимальная подготовка – обезжиривание и фиксация образца на держателе. Если образец пылит или содержит влагу, потребуется предварительная сушка. В целом, для большинства рутинных наблюдений настольный прибор с низковакуумным режимом избавляет от сложной пробоподготовки.

Микроанализатор EDS превращает микроскоп в инструмент для определения элементного состава микронных участков. Он нужен, если вы решаете задачи дефектоскопии (что за инородное включение?), металловедения (распределение легирующих элементов), исследования покрытий или судебной экспертизы. Для качественного анализа достаточно безазотного охлаждаемого детектора, а для количественного важна калибровка по стандартам. В настольных моделях EDS часто интегрирован, и переключение между снимком и спектром происходит за секунды. Если вы регулярно задаётесь вопросом «из чего это состоит?», такая приставка окупается быстро.

Функциональность, точность, простота применения, скорость и качество делает сканирующий электронный микроскоп незаменимым оборудованием для большинства научных и промышленных предприятий в Екатеринбурге. В каталоге компании “Синтез” представлены электронные сканирующие микроскопы от производителя и дополнительные аксессуары к СЭМ по выгодной цене.

Оборудование для сканирующей электронной микроскопии: сводные параметры

Наименование Электропитание Мощность / Ключевые параметры Габариты (В×Ш×Г) или размер образца Вес Дополнительно
Сканирующий электронный микроскоп KYKY-EM6900F 220 В, 50 Гц ускоряющее напряжение 0,5–30 кВ, ток зонда до 200 нА камера ø200 мм, образцы до ø150 мм ~100 кг разрешение 1,2 нм (SE), опционально BSE-детектор
EM6200 ECO 220 В (+6%/-10%), 50 Гц (±1%) — образцы до ø150 мм — —
KYKY-EM6900 230 В (±6%/-10%), 50 Гц (±1%) напряжение до 30 кВ образцы до ø175 мм — —
KYKY-EM8000 FEG-SEM 220 В (±6%/-10%), 50 Гц (±1%) ток 10 пА – 300 нА, напряжение до 30 кВ образцы до ø175 мм — —
KYKY-EM8100 FEG-SEM 230 В ±23 В, 50 Гц ток 10 пА – 300 нА, напряжение до 30 кВ образцы до ø320 мм — —
DTT — Desktop Thermal Evaporator 220–240 В, 50/60 Гц, 16 А — 600×650×500 мм ~60 кг вакуум 7×10⁻⁶ / 7×10⁻⁷ Торр
Установка NSC DCR 220–240 В, 50/60 Гц, 16 А — 450×500×370 мм, камера ø170×140 мм 46 кг вакуум < 0,05 Торр
Установка NSC DSCR 220–240 В, 50/60 Гц, 10 А — 450×500×370 мм, камера ø170×140 мм 42 кг вакуум < 50 мТорр
Установка NSC DSR1 220–240 В, 50/60 Гц, 10 А — 450×500×370 мм, камера ø170×140 мм 42 кг вакуум < 40 мТорр
NSC DCT-300 220 В, 50/60 Гц 2 кВт 580×500×630 мм 46 кг —
NSC DST1-300 220 В, 50/60 Гц, 2 кВт 300–600 Вт 580×500×630 мм 51 кг —
NSC DST2-TG 220 В, 50/60 Гц 4,5 кВт 550×600×600 мм 120 кг —
NSC DST3-T 220 В, 50/60 Гц 3 кВт 770×600×800 мм 160 кг —
NSC PLD-T 220 В, 50/60 Гц 3 кВт 500×600×470 мм 70 кг —
Установка NSC DSCT 220–240 В, 50/60 Гц, 10 А — — 42 кг вакуум < 7×10⁻⁷ Торр
Детектор Rainbow 220 В (±10%), 50 Гц — — — спектр 250–1100 нм
Детектор Sunny 220 В (±10%), 50 Гц — — — спектр 270–900 нм (эллипс.) / 200–900 нм (прямое)
Установка ионного травления и полировки AL-2000 220 В (±10%), 50 Гц (±1) менее 1 кВт образцы до 20×25×25 мм — —
Установка электролитического травления и полировки 220 В, 50 Гц 500 Вт блок травления 170×170×240 мм; блок управления 259×147×360 мм ~8 кг электролит 200–500 мл
Установка электролитического утонения 220 В, 50 Гц 600 Вт блок утонения 325×240×218 мм; ванна 130×173×85 мм ~10 кг электролит 500–800 мл
ООО “ГТК “Синтез” E-mail: info@sintez-lab.ru Тел.: +7 (343) 359-29-70,  ‪‪+7(343)359-28-22 .
г. Екатеринбург, ул.Куйбышева, д. 55, оф. 516

2015-2025

Напишите нам