620014, г.Екатеринбург,
ул.Куйбышева, д.55, оф.516.

Сканирующие электронные микроскопы

Электронные сканирующие микроскопы считаются настоящим ноу-хау в научном мире. Современный, высокоточный прибор, подходящий для использования в различных сферах, идеально справляется со своей задачей – обеспечение большого увеличения с целью изучения объектов. Принцип работы устройства заключается во взаимодействии электронов в луче с образцом, в процессе которого создаются различные сигналы, позволяющие получить информацию о топографии и композиции изучаемой поверхности. Как говорилось выше, область применения сканирующих электронных микроскопов считается достаточно широкой. Такой прибор подходит для проведения диагностики ультраструктур, как биологических, так и неорганических объектов, например, образцов биопсии, металлов, клеток, микроорганизмов, кристаллов, чипов микросхем и полупроводниковых структур и т.п.

Электронные микроскопы используют в своих рабочих процессах промышленные предприятия, лаборатории, в том числе криминалистические, научные и образовательные учреждения. Варианты моделей варьируются от компактного оборудования для обучения школьников и студентов до более мощных и производительных приборов (термоэмиссионные и растровые с полевой эмиссией микроскопы) для промышленности.

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) формирует изображение, последовательно облучая образец тонко сфокусированным пучком электронов. Картинка строится по точкам и сразу выводится на монитор — без окуляров и промежуточной оптики. Такой подход даёт высокую детализацию и позволяет изучать рельеф, микроструктуру, а при наличии дополнительных детекторов — элементный состав материала.

 

Сканирующие электронные микроскопы: сводка характеристик

Модель Тип электронного источника Разрешение Увеличение Особенности
EM6200 Eco Тунгстеновая нить 4.0 нм при 30 кВ 100x – 150 000x Базовая настольная модель; ручная регулировка, компактный корпус. Подходит для учебных лабораторий и начального знакомства с СЭМ.
EM6900F FEG‑SEM Полевая эмиссия (холодный катод) 1.2 нм при 30 кВ 100x – 500 000x Универсальный FEG‑микроскоп с возможностью установки BSE‑детектора и EDS. Хорошее соотношение аналитических возможностей и стоимости.
EM6900 Std Тунгстеновая нить 3.0 нм при 30 кВ 200x – 300 000x Компактный СЭМ на вольфрамовом катоде. Оснащён моторизованным предметным столиком. Применяется для рутинных исследований и обучения.
EM8000F Std FEG‑SEM Полевая эмиссия 1.2 нм при 30 кВ 100x – 500 000x Оптимизирован для длительной работы с высокой производительностью. Поддерживает работу с большими образцами (до 175 мм).
EM8100F Pro FEG‑SEM Полевая эмиссия 1.0 нм при 30 кВ 50x – 1 000 000x Исследовательский микроскоп с расширенной аналитикой: возможность подключения EDS, EBSD, STEM‑детектора. Стабильность при сверхвысоких увеличениях.

СЭМ применяют в лабораториях, на производстве и в научных центрах, где важны точность и возможность работать с наноразмерными объектами. Мы поставляем сканирующие электронные микроскопы в Екатеринбург и другие города РФ, предлагаем конкурентоспособные цены и помощь в подборе оборудования под конкретные задачи.

Напишите нам