Сканирующие электронные микроскопы
Электронные сканирующие микроскопы считаются настоящим ноу-хау в научном мире. Современный, высокоточный прибор, подходящий для использования в различных сферах, идеально справляется со своей задачей – обеспечение большого увеличения с целью изучения объектов. Принцип работы устройства заключается во взаимодействии электронов в луче с образцом, в процессе которого создаются различные сигналы, позволяющие получить информацию о топографии и композиции изучаемой поверхности. Как говорилось выше, область применения сканирующих электронных микроскопов считается достаточно широкой. Такой прибор подходит для проведения диагностики ультраструктур, как биологических, так и неорганических объектов, например, образцов биопсии, металлов, клеток, микроорганизмов, кристаллов, чипов микросхем и полупроводниковых структур и т.п.
Электронные микроскопы используют в своих рабочих процессах промышленные предприятия, лаборатории, в том числе криминалистические, научные и образовательные учреждения. Варианты моделей варьируются от компактного оборудования для обучения школьников и студентов до более мощных и производительных приборов (термоэмиссионные и растровые с полевой эмиссией микроскопы) для промышленности.
Важность и актуальность электронных микроскопов в научных и промышленных сферах не вызывает сомнений, мало того, их значение только увеличивается с развитием научных технологий и совершением научных открытий. Одним из наиболее востребованных и эффективных приборов данного типа является сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Это у устройство заслуженно получило статус многофункционального оборудования, возможности которого значительно усовершенствованы и превышают функционал простых устройств для получения увеличенных изображений. У современного СЭМ изображения фиксируются сразу в цифровом формате, без задействования окуляров. Наличие слова «сканирующий», подразумевает принцип построении СЭМ-изображений, при котором поверхность образца сканируется тонко сфокусированным пучком электронов, т.е. образец закрашивается точка за точкой. СЭМ-изображение вслед за движением по поверхности электронного пучка моментально и последовательно, пиксель за пикселем, выводится на экран. Сканирующие электронные микроскопы являются мощнейшим инструментом для исследования микроструктур и наноматериалов. Благодаря СЭМ удаётся детально и высококачественно изучить объект и получить максимально точные результаты.
Функциональность, точность, простота применения, скорость и качество делает сканирующий электронный микроскоп незаменимым оборудованием для большинства научных и промышленных предприятий в Екатеринбурге. У нас вы можете купить качественные электронные сканирующие микроскопы на самых выгодных в России условиях.
Сводная таблица характеристик сканирующих электронных микроскопов
| Модель | Тип электронного источника | Разрешение | Увеличение | Особенности |
|---|---|---|---|---|
| EM8100F Pro FEG-SEM | Полевая эмиссия | 1.0 нм при 30 кВ | от 50x до 1,000,000x |
|
| EM8000F Std FEG-SEM | Полевая эмиссия | 1.2 нм при 30 кВ | от 100x до 500,000x |
|
| EM6900 Std | Тунгстеновая нить | 3.0 нм при 30 кВ | от 200x до 300,000x |
|
| EM6200 Eco | Тунгстеновая нить | 4.0 нм при 30 кВ | от 100x до 150,000x |
|