+7 (343) 271-01-26

620144, г.Екатеринбург,
ул.Куйбышева, д.55, оф.516.

Сканирующие электронные микроскопы

Электронные сканирующие микроскопы считаются настоящим ноу-хау в научном мире. Современный, высокоточный прибор, подходящий для использования в различных сферах, идеально справляется со своей задачей – обеспечение большого увеличения с целью изучения объектов. Принцип работы устройства заключается во взаимодействии электронов в луче с образцом, в процессе которого создаются различные сигналы, позволяющие получить информацию о топографии и композиции изучаемой поверхности. Как говорилось выше, область применения сканирующих электронных микроскопов считается достаточно широкой. Такой прибор подходит для проведения диагностики ультраструктур, как биологических, так и неорганических объектов, например, образцов биопсии, металлов, клеток, микроорганизмов, кристаллов, чипов микросхем и полупроводниковых структур и т.п.

Электронные микроскопы используют в своих рабочих процессах промышленные предприятия, лаборатории, в том числе криминалистические, научные и образовательные учреждения. Варианты моделей варьируются от компактного оборудования для обучения школьников и студентов до более мощных и производительных приборов (термоэмиссионные и растровые с полевой эмиссией микроскопы) для промышленности.

Важность и актуальность электронных микроскопов в научных и промышленных сферах не вызывает сомнений, мало того, их значение только увеличивается с развитием научных технологий и совершением научных открытий. Одним из наиболее востребованных и эффективных приборов данного типа является сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Это у устройство заслуженно получило статус многофункционального оборудования, возможности которого значительно усовершенствованы и превышают функционал простых устройств для получения увеличенных изображений. У современного СЭМ изображения фиксируются сразу в цифровом формате, без задействования окуляров. Наличие слова «сканирующий», подразумевает принцип построении СЭМ-изображений, при котором поверхность образца сканируется тонко сфокусированным пучком электронов, т.е. образец закрашивается точка за точкой. СЭМ-изображение вслед за движением по поверхности электронного пучка моментально и последовательно, пиксель за пикселем, выводится на экран. Сканирующие электронные микроскопы являются мощнейшим инструментом для исследования микроструктур и наноматериалов. Благодаря СЭМ удаётся детально и высококачественно изучить объект и получить максимально точные результаты.
Функциональность, точность, простота применения, скорость и качество делает сканирующий электронный микроскоп незаменимым оборудованием для большинства научных и промышленных предприятий в Екатеринбурге. У нас вы можете купить качественные электронные сканирующие микроскопы на самых выгодных в России условиях.

 

Сводная таблица характеристик сканирующих электронных микроскопов

Модель Тип электронного источника Разрешение Увеличение Особенности
EM8100F Pro FEG-SEM Полевая эмиссия 1.0 нм при 30 кВ от 50x до 1,000,000x
  • Высокая стабильность и разрешение
  • Расширенные функции анализа
  • Идеально для научных исследований
EM8000F Std FEG-SEM Полевая эмиссия 1.2 нм при 30 кВ от 100x до 500,000x
  • Высокая производительность
  • Оптимальное соотношение цены и качества
  • Для универсальных применений
EM6900 Std Тунгстеновая нить 3.0 нм при 30 кВ от 200x до 300,000x
  • Компактный дизайн
  • Экономичное решение
  • Подходит для обучения и рутинных задач
EM6200 Eco Тунгстеновая нить 4.0 нм при 30 кВ от 100x до 150,000x
  • Базовая модель для начального уровня
  • Простота в использовании
  • Для учебных и базовых исследовательских работ

Напишите нам