620014, г.Екатеринбург,
ул.Куйбышева, д.55, оф.516.
Электронные сканирующие микроскопы считаются настоящим ноу-хау в научном мире. Современный, высокоточный прибор, подходящий для использования в различных сферах, идеально справляется со своей задачей – обеспечение большого увеличения с целью изучения объектов. Принцип работы устройства заключается во взаимодействии электронов в луче с образцом, в процессе которого создаются различные сигналы, позволяющие получить информацию о топографии и композиции изучаемой поверхности. Как говорилось выше, область применения сканирующих электронных микроскопов считается достаточно широкой. Такой прибор подходит для проведения диагностики ультраструктур, как биологических, так и неорганических объектов, например, образцов биопсии, металлов, клеток, микроорганизмов, кристаллов, чипов микросхем и полупроводниковых структур и т.п.








Электронные микроскопы используют в своих рабочих процессах промышленные предприятия, лаборатории, в том числе криминалистические, научные и образовательные учреждения. Варианты моделей варьируются от компактного оборудования для обучения школьников и студентов до более мощных и производительных приборов (термоэмиссионные и растровые с полевой эмиссией микроскопы) для промышленности.
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) формирует изображение, последовательно облучая образец тонко сфокусированным пучком электронов. Картинка строится по точкам и сразу выводится на монитор — без окуляров и промежуточной оптики. Такой подход даёт высокую детализацию и позволяет изучать рельеф, микроструктуру, а при наличии дополнительных детекторов — элементный состав материала.
| Модель | Тип электронного источника | Разрешение | Увеличение | Особенности |
|---|---|---|---|---|
| EM6200 Eco | Тунгстеновая нить | 4.0 нм при 30 кВ | 100x – 150 000x | Базовая настольная модель; ручная регулировка, компактный корпус. Подходит для учебных лабораторий и начального знакомства с СЭМ. |
| EM6900F FEG‑SEM | Полевая эмиссия (холодный катод) | 1.2 нм при 30 кВ | 100x – 500 000x | Универсальный FEG‑микроскоп с возможностью установки BSE‑детектора и EDS. Хорошее соотношение аналитических возможностей и стоимости. |
| EM6900 Std | Тунгстеновая нить | 3.0 нм при 30 кВ | 200x – 300 000x | Компактный СЭМ на вольфрамовом катоде. Оснащён моторизованным предметным столиком. Применяется для рутинных исследований и обучения. |
| EM8000F Std FEG‑SEM | Полевая эмиссия | 1.2 нм при 30 кВ | 100x – 500 000x | Оптимизирован для длительной работы с высокой производительностью. Поддерживает работу с большими образцами (до 175 мм). |
| EM8100F Pro FEG‑SEM | Полевая эмиссия | 1.0 нм при 30 кВ | 50x – 1 000 000x | Исследовательский микроскоп с расширенной аналитикой: возможность подключения EDS, EBSD, STEM‑детектора. Стабильность при сверхвысоких увеличениях. |
СЭМ применяют в лабораториях, на производстве и в научных центрах, где важны точность и возможность работать с наноразмерными объектами. Мы поставляем сканирующие электронные микроскопы в Екатеринбург и другие города РФ, предлагаем конкурентоспособные цены и помощь в подборе оборудования под конкретные задачи.
2015-2025