Столик для измерения механических и электрических характеристик образца внутри камеры СЭМ.

Диапазон механических измерений: 0.5нН – 200мН.
Диапазон регистрируемого смещения 0.5нм – 21мм.

Области применения: микроэлектроника, наноматериалы, тонкопленочные материалы и пр.