Каталог
Наноразмерная визуализация нового поколения
Откройте мир невидимого с беспрецедентной детализацией. IQSCAN F50 — это флагманский аналитический комплекс, устанавливающий новые стандарты в области сканирующей электронной микроскопии.
Разработанный для самых требовательных исследований, микроскоп IQSCAN F50 сочетает в себе революционные инженерные решения и интуитивное управление. Благодаря уникальной технологии SuperTunnel™ и электронно-оптическому пути без кроссовера он обеспечивает сверхвысокое разрешение и исключительную стабильность, позволяя получать безупречные изображения даже на предельно низких ускоряющих напряжениях.
Ключевые преимущества IQSCAN F50:
- Сверхвысокое разрешение: Наслаждайтесь кристально четким изображением с разрешением 0.7 нм при 15 кВ и 1.1 нм при 1 кВ. Изучайте наноструктуры с беспрецедентной детализацией и получайте точные данные для самых сложных научных задач.
- Технология SuperTunnel™: Наша инновационная разработка минимизирует аберрации и обеспечивает высочайшую стабильность электронного пучка. Это гарантирует непревзойденное качество изображения и воспроизводимость результатов даже в ходе длительных аналитических сессий.
- Превосходное качество при низких напряжениях: Широкий диапазон энергий от 20 эВ до 30 кВ позволяет исследовать чувствительные к излучению и непроводящие образцы (полимеры, биологические препараты, тонкие пленки) с минимальной пробоподготовкой.
- Максимальная стабильность: Объектив с водяным охлаждением поддерживает постоянную температуру системы, обеспечивая термическую стабильность и компенсируя дрейф, что критически важно для длительных экспериментов и прецизионного анализа.
- Удобство и эффективность: Интуитивно понятный интерфейс программного обеспечения и встроенная оптическая навигационная камера делают процесс поиска областей интереса и фокусировки быстрым и простым, экономя ваше время.
- Мощная аналитическая платформа: Микроскоп обладает огромным потенциалом для расширения. Интегрируйте любые дополнительные опции: EDS/WDS для элементного анализа, EBSD для анализа структуры, CL или STEM-детектор. Доступны специализированные столики для in-situ экспериментов.
Технические характеристики:
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Разрешение | 0.7 нм (при 15 кВ, SE) / 1.1 нм (при 1 кВ, SE) |
| Увеличение | 12x – 2 500 000x |
| Тип катода | Шоттки |
| Ускоряющее напряжение | 20 В – 30 кВ |
| Детекторы (базовые) | SE, In-Lens, полупроводниковый 4-секционный BSE |
| Столик | 5-осевой моторный (5 степеней свободы) |
| Перемещения столика | X, Y: 110 мм; Z: 65 мм; Наклон (T): -10°…+70°; Вращение (R): 360° |
Области применения:
- Передовые исследования в нанотехнологиях
- Разработка и контроль качества в полупроводниковой промышленности
- Металловедение и материаловедение
- Криминалистика и судебная экспертиза
- Геология и науки о Земле
- Биомедицинские исследования и фармакология
IQSCAN F50 — это не просто прибор, а ваш ключ к революционным открытиям. Это идеальное решение для научных институтов, промышленных лабораторий и любого исследователя, который не готов идти на компромисс в отношении качества и точности.
Готовы вывести ваши исследования на новый уровень?
Свяжитесь с нашими специалистами для консультации и демонстрации возможностей микроскопа IQSCAN F50.