Каталог
Мощность, автоматизация и безграничные возможности анализа
Высокопроизводительный аналитический SEM-микроскоп для самых разнообразных задач в науке и промышленности.
Сканирующий электронный микроскоп IQSCAN F40 — это флагманская модель, предназначенная для исследователей, которым требуется высочайший уровень детализации, максимальная стабильность пучка и готовность к решению сложных аналитических задач. Благодаря катоду Шоттки, продвинутой автоматизации и широким возможностям для расширения, IQSCAN F40 становится центральным инструментом современной лаборатории.
Ключевые преимущества:
- Превосходное разрешение: Получайте сверхчеткие изображения с разрешением 0.9 нм при 30 кВ. Это позволяет с легкостью проводить исследования в субмикронном и наномасштабе, анализируя мельчайшие особенности структуры материалов.
- Высокая стабильность и яркость пучка: Катод Шоттки обеспечивает исключительно стабильный и яркий электронный пучок, что критически важно для продолжительной съемки и проведения точных аналитических исследований, таких как EDS и EBSD-анализ.
- Интуитивная работа и полная автоматизация: Удобный интерфейс и набор автоматических функций (автофокус, автоматическая яркость и контраст, автоматическая коррекция астигматизма) делают работу эффективной и позволяют быстро получать результаты даже операторам с небольшим опытом.
- Всесторонний анализ образцов: Режим низкого вакуума в базовой комплектации позволяет изучать непроводящие образцы без нанесения проводящего покрытия. Специализированное ПО для анализа частиц и пор предоставляет мощный инструментарий для количественного статистического анализа.
Технические характеристики:
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Разрешение | 0.9 нм (при 30 кВ, SE) / 1.8 нм (при 1 кВ, SE) |
| Увеличение | 12x – 1 000 000x |
| Катод | Шоттки (планерный тип) |
| Ускоряющее напряжение | 200 В – 30 кВ (плавающий режим) |
| Детекторы (базовые) | SE, LVD, полупроводниковый 4-секционный BSE |
| Столик | 5-осевой (eucentric) motorized |
| Перемещения столика | X, Y: 110 мм; Z: 65 мм; Наклон: -10°…+70°; Вращение: 360° |
Возможности для расширения:
Микроскоп обладает мощным заделом на будущее. Доступны опции для установки детекторов и модулей:
- EDS/WDS для элементного микроанализа
- EBSD для анализа кристаллической структуры
- CL (катодолюминесценция) для анализа полупроводников и геоматериалов
- STEM детектор для исследования ультратонких срезов
- Специализированные столики: для нагрева, охлаждения, in-situ механических испытаний
- Шлюз для быстрой замены образцов
Области применения:
- Передовые исследования в материаловедении и нанотехнологиях
- Контроль качества в микроэлектронике и полупроводниковой промышленности
- Неразрушающий анализ в металлографии и дентальной имплантологии
- Геология и горная добыча
- Криминалистика и судебная экспертиза
- Академические и научно-исследовательские работы
IQSCAN F40 — это не просто микроскоп, это универсальная аналитическая платформа, которая сочетает в себе мощь, точность и гибкость для решения самых сложных задач сегодня и в будущем.